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    顆粒度分析儀實現了粒度分析技術的突破發(fā)展

    更新時間:2016-12-22      點擊次數:2390
     顆粒度分析儀實現了粒度分析技術的突破發(fā)展
    隨著納米材料在高心技術產業(yè)、國防、醫(yī)藥等領域的廣泛應用,顆粒測量技術將向測量下限低、測量范圍廣、測量準確度和度高、重現性好等方向發(fā)展。因此,對顆粒測量技術的要求也越來越高。綜觀各種顆粒測量方法和技術,為適應顆粒粒度分析的更高要求,光散射法、基于顆粒布朗運動的測量方法和質譜法等顆粒粒度分析手段將更加完善并得到更廣泛的應用。斷增長的*以及其穩(wěn)定的運行性能使得越來越多的人開始了解和使用這一設備。
    顆粒度分析儀采用百特*的雙鏡頭光學系統(tǒng)的、帶有自動對中、自動進水、自動清洗、自動水位測量、自動分散功能的一種顆粒度分析儀,它采用測量和循環(huán)分散系統(tǒng)分開的兩體結構形式,便于維護維修和使用;采用高性能的進口半導體激光器,壽命大于25000小時;采用防干燒超聲波分散技術,在杯中沒有水時開超聲波也不會損壞。該儀器具有準確可靠、重復性好、操作簡便、測試速度快等突出特點,特別適合企業(yè)、高校、研究院所等實驗室選用。
    顆粒度分析儀是一款人性化的全自動激光粒度儀,是我公司粒度分析技術的又一次飛躍性突破。此款儀器在采用Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換光路技術及無約束自由擬合數據處理技術的同時更賦予了自動化、智能化等一系列時代性的標志,使操作更簡便、方法更統(tǒng)一、結果更穩(wěn)定,是粒度測試的搭檔和得力助手。
    顆粒度分析儀經空間濾波器和擴束透鏡后,得到了一個平行單色光束,該光束照射到由分散系統(tǒng)傳輸過來的顆粒樣品后發(fā)生散射現象,研究表明,散射光的角度和顆粒直徑成反比,散射光強隨角度的增加呈對數衰減。這些散射光經傅立葉透鏡后成像在排列有多環(huán)光電探測器的焦平面上。顆粒度分析儀多環(huán)探測器上的中央探測器用來測定樣品的體積濃度,外圍探測器用來接收散射光的能量并轉換成電信號,而散射光的能量分布與顆粒粒度分布直接相關。通過接收散射光的能量分布就可以反演得出顆粒的粒度分布特征。
    顆粒度分析儀保證測試結果準確可靠;報告單設有中文、英文兩種語言共12種格式,可以隨時選擇。采用進口大功率半導體激光器,單色性好,壽命長。粒度分析儀器由特殊設計的大口徑長焦距透鏡組成的精密光學準值系統(tǒng), 配合84通道多元光電接收器陣列,使測量范圍達到1-2600μm。
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